基于SiPM的线阵式X射线背散射探测器设计与性能评估

基于SiPM的线阵式X射线背散射探测器设计与性能评估

论文摘要

为了实现现场快速安全检查过程中敏感物质的细分,探讨了一种通过X射线背散射信号求取物质密度的方法,并完成了实现该方法的核心部件——一种基于硅光电倍增管(SiPM)的的线阵式闪烁体探测器的设计和功能验证。该探测器具有能量分辨的能力,能够分析不同物质在不同能量下的散射衰减。在环境温度-10℃~50℃条件下,该探测器输出的脉冲幅值稳定,能量分辨率在22.1%~25.7%变化(室温条件时能量分辨率为23.6%@59.5 KeV)。其线阵的结构为实现散射与透视图像空间上的一一对应,进而实现散射信息与透视信息的融合打下了基础。不同材料的散射能谱测量结果表明,该探测器所探测的能量曲线能够反映物质的密度特性,验证了其用于散射能谱探测以实现物质分类的可行性,在现场查缉装备的智能识别方面极具应用前景。

论文目录

  • 0 引 言
  • 1 基本原理
  • 2 基于SiPM的背散射线阵探测器设计
  • 3 实验结果
  •   3.1 能量分辨性能测试及最佳能量分辨率条件
  •     1)测试平台搭建
  •     2)探测器输出结果
  •     3)最优供电电压的选择
  •     4)温度对能量分辨率的影响
  •   3.2 不同物质散射能量曲线测量
  • 4 讨 论
  • 5 结 论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 李维姣,陈嘉敏,邬小玫,王威琪,常青青

    关键词: 安全检查,硅光电倍增管,能谱,线阵式背散射探测

    来源: 仪器仪表学报 2019年12期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑

    专业: 仪器仪表工业

    单位: 复旦大学电子工程系,公安部第三研究所

    基金: 国家重点研发计划(2016YFC0800904)资助

    分类号: TH83

    DOI: 10.19650/j.cnki.cjsi.J1904879

    页码: 152-160

    总页数: 9

    文件大小: 2784K

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