论文摘要
贵金属因其价值高,对测量精度要求较高,X射线荧光光谱技术作为一种无损检测技术,检出限在μg/g量级范围内,特别适合用来检测样品中贵金属元素的组成和含量,已经成为贵金属分析领域中的主要检测手段。文章旨在对适用于贵金属检测的XRF专利申请进行分析;理清其技术发展脉络,合理预期其未来发展趋势,供相关研究人员和企业参考。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 全先荣
关键词: 射线荧光光谱,贵金属,无损检测,专利技术
来源: 科技创新与应用 2019年15期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑,经济与管理科学
专业: 仪器仪表工业,科学研究管理
单位: 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心
分类号: TH744.1;G306
页码: 18-19
总页数: 2
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