全文摘要
本实用新型公开了一种托盘及包含其的芯片测试装置。所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。该芯片测试装置包括：测试箱，所述测试箱用于测试芯片；如上所述的托盘；传送机构，所述传送机构用于将所述托盘传送到所述测试箱中；以及扫码器，所述扫码器设于所述测试箱中；其中，所述芯片上设有条形码或二维码，所述扫码器能够扫描所述条形码或二维码。托盘中的多个台阶部能够较好地托住芯片，从而使得芯片在测试过程中稳定放置。芯片测试装置可以稳定地传送芯片并且测试芯片。
主设计要求
1.一种托盘，其特征在于，所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。
设计方案
1.一种托盘，其特征在于，所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。
2.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽的底面设有通孔。
3.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上。
4.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽的底面设有八边形的通孔，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上并形成所述通孔的四条边。
5.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的侧面设有向内凹进的第一凹陷部。
6.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的四个角均设有向内凹陷的第二凹陷部。
7.一种芯片测试装置，其特征在于，其包括：
测试箱，所述测试箱用于测试芯片；
如权利要求1-6中任一项所述的托盘；
传送机构，所述传送机构用于将所述托盘传送到所述测试箱中；以及
扫码器，所述扫码器设于所述测试箱中；
其中，所述芯片上设有条形码或二维码，所述扫码器能够扫描所述条形码或二维码。
8.如权利要求7所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：读卡器，所述读卡器设于所述传送机构的上游并能够识别所述芯片的型号。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及一种托盘及包含其的芯片测试装置。
背景技术
芯片属于非常精密的构件，在对其进行检测时，反复地拿取芯片可能会对芯片造成损害，因此，自动化的芯片检测流程是优选的。但是芯片的稳定放置仍然是一个问题。而且，如何将所检测的芯片与检测结构相对应也是一个问题。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术不能稳定放置芯片的缺陷，提供一种可稳定放置芯片的托盘及包含其的芯片测试装置。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
一种托盘，所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。
优选地，所述凹槽的底面设有通孔。这样芯片放置时不会有空气阻力。
优选地，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上。四边形结构适配芯片的形状，而台阶部设于四个角上，芯片放置时更稳定。
优选地，所述凹槽的底面设有八边形的通孔，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上并形成所述通孔的四条边。
优选地，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的侧面设有向内凹进的第一凹陷部。
优选地，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的四个角均设有向内凹陷的第二凹陷部。
第一凹陷部和第二凹陷部均便于芯片的拿取。
一种芯片测试装置，其包括：
测试箱，所述测试箱用于测试芯片；
如上所述的托盘；
传送机构，所述传送机构用于将所述托盘传送到所述测试箱中；以及
扫码器，所述扫码器设于所述测试箱中；
其中，所述芯片上设有条形码或二维码，所述扫码器能够扫描所述条形码或二维码。
优选地，所述芯片测试装置还包括：读卡器，所述读卡器设于所述传送机构的上游并能够识别所述芯片的型号。
通过设置读卡器和扫码器可以准确识别到底是哪个或哪种芯片被测试，从而准确输出测试结果。
本实用新型的积极进步效果在于：托盘中的多个台阶部能够较好地托住芯片，从而使得芯片在测试过程中稳定放置。芯片测试装置可以稳定地传送芯片并且测试芯片。
附图说明
图1为根据本实用新型的优选实施例的托盘的立体结构示意图。
图2为根据本实用新型的优选实施例的托盘的正视结构示意图。
图3为根据本实用新型的优选实施例的芯片测试装置的立体结构示意图。
附图标记说明：
托盘10
凹槽11
台阶部12
通孔13
第一凹陷部14
第二凹陷部15
芯片测试装置20
测试箱21
传送机构22
读卡器23
具体实施方式
下面结合附图，通过实施例的方式进一步说明本实用新型，但并不因此将本实用新型限制在的实施例范围之中。
如图1-2所示，托盘10用于放置芯片，托盘10的表面设置一凹槽11，凹槽11的侧面设有多个台阶部12，多个台阶部12位于同一平面上。芯片在放入时，被台阶部12托住。
凹槽11的底面设有通孔13。如果凹槽11底面为实心结果，当芯片放入时，由于将凹槽11内部的空气压缩在内部，芯片可能不易放入。因此，将凹槽11的底面镂空，这样芯片放置时不会有空气阻力，便于芯片的放入。同时，也便于从芯片的上方和下方测试芯片。
凹槽11为四边形结构，台阶部12设于凹槽11的四个角上。四边形结构适配芯片的形状，而台阶部12设于四个角上，芯片放置时更稳定。
如图1所示，凹槽11的底面设有八边形的通孔13，台阶部12形成通孔13的四条边。凹槽11的底面大面积地镂空，这样方便从芯片的下方测试芯片。
凹槽11为四边形结构，凹槽11的侧面设有向内凹进的第一凹陷部14。
凹槽11为四边形结构，凹槽11的四个角均设有向内凹陷的第二凹陷部15。
第一凹陷部14和第二凹陷部15均便于手指和抓取装置伸入，将芯片从凹槽11中拿出。
如图3所示，芯片测试装置20包括：测试箱21，测试箱21用于测试芯片；托盘10；传送机构22，传送机构22用于将托盘10传送到测试箱21中；和扫码器(未示意)，扫码器设于测试箱21中；其中，芯片上设有条形码或二维码，扫码器能够扫描条形码或二维码。
在本实施例中，采用了传送带作为传送机构22，本领域的技术人员也可以根据需要选取其他机械结构作为传送机构22。当放置于托盘10中的芯片被传送到测试箱21的前方时，测试箱21中的一提取机构会将托盘10从传送带中取下，转移到测试箱21中，对芯片进行测试。
芯片测试装置20还包括：读卡器23，读卡器23设于传送机构22的上游并能够识别芯片的型号。
读卡器23和扫码器同时设置可以准确识别到底是哪个或哪种芯片被测试，从而准确输出测试结果。
读卡器23和扫码器均为市售可得，不再赘述。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式作出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201822254648.8
申请日:2018-12-29
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:31(上海)
授权编号:CN209432963U
授权时间:20190924
主分类号:G01R 31/28
专利分类号:G01R31/28;G01R1/04
范畴分类:31F;
申请人:希姆通信息技术（上海）有限公司
第一申请人:希姆通信息技术（上海）有限公司
申请人地址:200335 上海市长宁区金钟路633号
发明人:王建祥;欧阳志武
第一发明人:王建祥
当前权利人:希姆通信息技术（上海）有限公司
代理人:薛琦;杨东明
代理机构:31283
代理机构编号:上海弼兴律师事务所
优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计
标签：芯片论文;