全文摘要
本实用新型公开了一种芯片测试装置，其包括：外壳、支架、伸出单元和测试单元；所述外壳包括盒体和上盖，所述上盖可枢转地连接于所述盒体；所述支架设置于所述盒体中，所述伸出单元可移动地连接于所述支架，以从所述外壳的内部伸出到所述外壳的外部；所述测试单元设于所述外壳内，并用于测试放置于所述伸出单元上的待测试物品。该芯片测试装置通过将测试单元和芯片置于外壳内部，从而避免测试单元发出的信号干扰到芯片测试装置周边的设备。
主设计要求
1.一种芯片测试装置，其特征在于，其包括：外壳、支架、伸出单元和测试单元；所述外壳包括盒体和上盖，所述上盖可枢转地连接于所述盒体；所述支架设置于所述盒体中，所述伸出单元可移动地连接于所述支架，以从所述外壳的内部伸出到所述外壳的外部；所述测试单元设于所述外壳内，并用于测试放置于所述伸出单元上的待测试物品。
设计方案
1.一种芯片测试装置，其特征在于，其包括：外壳、支架、伸出单元和测试单元；
所述外壳包括盒体和上盖，所述上盖可枢转地连接于所述盒体；
所述支架设置于所述盒体中，所述伸出单元可移动地连接于所述支架，以从所述外壳的内部伸出到所述外壳的外部；
所述测试单元设于所述外壳内，并用于测试放置于所述伸出单元上的待测试物品。
2.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述上盖通过与所述伸出单元的伸出方向相反的侧边缘与所述盒体连接。
3.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述上盖和所述盒体之间连接有一伸缩杆。
4.如权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述伸缩杆的一端连接于所述上盖的外侧面，所述伸缩杆的另一端连接于所述盒体的外侧面。
5.如权利要求4所述的芯片测试装置，其特征在于，所述伸缩杆的一端连接于所述上盖的远离所述上盖和所述盒体的连接部的位置，所述伸缩杆的另一端连接于所述盒体的靠近所述上盖和所述盒体的连接部的位置。
6.如权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述伸缩杆为一气缸，所述气缸包括缸筒和活塞杆。
7.如权利要求6所述的芯片测试装置，其特征在于，所述活塞杆连接于所述上盖，所述缸筒连接于所述盒体。
8.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述外壳由导电金属制成。
设计说明书
技术领域
本发明涉及一种芯片测试装置。
背景技术
在芯片生产过程中，芯片的性能检测是一项非常重要的工作。当芯片生产完成后，需要测试该芯片是否达标或是否能正常工作。在测试时，测试单元会发出无线信号，会对测试装置周边的设备的信号传输产生干扰。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术芯片测试单元会对测试装置周边的设备产生信号干扰的缺陷，提供一种可屏蔽干扰信号的芯片测试装置。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
一种芯片测试装置，其包括：外壳、支架、伸出单元和测试单元；
所述外壳包括盒体和上盖，所述上盖可枢转地连接于所述盒体；
所述支架设置于所述盒体中，所述伸出单元可移动地连接于所述支架，以从所述外壳的内部伸出到所述外壳的外部；
所述测试单元设于所述外壳内，并用于测试放置于所述伸出单元上的待测试物品。
优选地，所述上盖通过与所述伸出单元的伸出方向相反的侧边缘与所述盒体连接。这样的设置更有利于伸出单元从上盖和盒体之间的较大开口伸出。
优选地，所述上盖和所述盒体之间连接有一伸缩杆。该伸缩杆用于相对于盒体支撑上盖和开闭上盖。
优选地，所述伸缩杆的一端连接于所述上盖的外侧面，所述伸缩杆的另一端连接于所述盒体的外侧面。这样，伸缩杆不妨碍盒体内部构件。
优选地，所述伸缩杆的一端连接于所述上盖的远离所述上盖和所述盒体的连接部的位置，所述伸缩杆的另一端连接于所述盒体的靠近所述上盖和所述盒体的连接部的位置。这样设置有利于缩短伸缩杆的总体长度，且减小支撑杆所需的支撑力。
优选地，所述伸缩杆为一气缸，所述气缸包括缸筒和活塞杆。利用气缸驱动伸缩杆伸缩。
优选地，所述活塞杆连接于所述上盖，所述缸筒连接于所述盒体。气缸设于下方减小伸缩杆伸长时所需的支撑力。
优选地，所述外壳由导电金属制成。导电金属可以较好地屏蔽无线信号。
本发明的积极进步效果在于：该芯片测试装置通过将测试单元和芯片置于外壳内部，从而避免测试单元发出的信号干扰到芯片测试装置周边的设备。
附图说明
图1为根据本发明的优选实施例的芯片测试装置的立体结构示意图。
附图标记说明：
芯片测试装置10
外壳11
盒体12
上盖13
支架14
伸出单元15
伸缩杆16
缸筒17
活塞杆18
具体实施方式
下面结合附图，通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在的实施例范围之中。
如图1所示，芯片测试装置10包括：外壳11、支架14、伸出单元15和测试单元(未示意)。
外壳11包括盒体12和上盖13，上盖13可枢转地连接于盒体12。
支架14设置于盒体12中，伸出单元15可移动地连接于支架14，以从外壳11的内部伸出到外壳11的外部。伸出单元15可以通过气缸或直线电机等驱动而相对于支架14移动。伸出单元15伸出到盒体12外部以接收待测试的芯片，接着带着芯片一起移动到盒体12内部，以测试芯片。
测试单元设于外壳11内，并用于测试放置于伸出单元15上的待测试物品。
上盖13通过与伸出单元15的伸出方向相反的侧边缘与盒体12连接。这样的设置更有利于伸出单元15从上盖13和盒体12之间的较大开口伸出。
上盖13和盒体12之间连接有一伸缩杆16。该伸缩杆16用于相对于盒体12支撑上盖13和开闭上盖13。
伸缩杆16的一端连接于上盖13的外侧面，伸缩杆16的另一端连接于盒体12的外侧面。伸缩杆16设置在外壳11的外部，不会妨碍盒体12内部构件的布置。
伸缩杆16的一端连接于上盖13的远离上盖13和盒体12的连接部的位置，伸缩杆16的另一端连接于盒体12的靠近上盖13和盒体12的连接部的位置。这样设置有利于缩短伸缩杆16的总体长度，且减小支撑杆所需的支撑力。
伸缩杆16为一气缸，气缸包括缸筒17和活塞杆18。利用气缸驱动伸缩杆16伸缩。
活塞杆18连接于上盖13，缸筒17连接于盒体12。气缸设于下方减小伸缩杆16伸长时所需的支撑力。
外壳11可以由导电金属制成。导电金属可以较好地屏蔽无线信号。可选择地，外壳11也可以由其他非导电材料构成，当其厚度足够时，也可以较好地屏蔽无线信号。
该芯片测试装置通过将测试单元和芯片置于外壳内部，从而避免测试单元发出的信号干扰到芯片测试装置周边的设备。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式作出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201822274293.9
申请日:2018-12-29
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:31(上海)
授权编号:CN209432864U
授权时间:20190924
主分类号:G01R 1/04
专利分类号:G01R1/04;G01R1/18
范畴分类:31F;
申请人:上海玑智自动化科技有限公司
第一申请人:上海玑智自动化科技有限公司
申请人地址:201799 上海市青浦区胜利路888号1幢一层东侧、20幢
发明人:杨辉;谢磊
第一发明人:杨辉
当前权利人:上海玑智自动化科技有限公司
代理人:薛琦;杨东明
代理机构:31283
代理机构编号:上海弼兴律师事务所
优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计
标签：芯片论文;