导读:本文包含了锁存器论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:可靠性,DNUs,SEU,功耗
锁存器论文文献综述
黄正峰,郭阳,王鑫宇,戚昊琛,徐奇[1]（2019）在《一种交叉互联的高可靠锁存器》一文中研究指出现阶段随着CMOS工艺特征尺寸的减小,电路中可能会发生单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)的敏感节点之间的距离在不断减小,发生一颗高能粒子引起多个节点同时发生翻转的事件概率正逐渐上升。为了提高电路的可靠性,基于抗辐射加固设计方法,提出了一种能够容忍两个节点同时发生翻转的锁存器。该锁存器以双输入反相器(Double-input Inverter,DI)单元作为核心器件,并且在DI单元之间采用了交叉互联的连接方式,减少了器件个数的使用。与传统的具有容错能力的锁存器相比,所提出的结构不仅具有良好的抗双点翻转能力,而且在功耗、延迟以及功耗延迟积(Power Delay Product,PDP)方面都有很大的优势。该结构可靠性高、性能优良,在提高芯片的可靠性方面具有重要意义,有实用价值。(本文来源于《测控技术》期刊2019年11期）
黄正峰,张阳阳,李雪健,付俊超,徐秀敏[2]（2019）在《一种容忍单粒子双节点翻转的锁存器设计》一文中研究指出文章提出了一种新型的锁存器,采用双模冗余容错技术,能够同时容忍单粒子单节点翻转和单粒子双节点翻转。相比于同类型的加固设计,文中设计的结构延迟平均下降74.40%,功耗平均下降8.32%,功耗-延迟积(power-delay product,PDP)平均下降75.20%,面积平均减少15.76%;而且该锁存器的延迟对工艺、供电电压及温度的波动不敏感。(本文来源于《合肥工业大学学报(自然科学版)》期刊2019年04期）
刘志学,王庆红,李广凯,陈柔伊,段力勇[3]（2019）在《通过光耦和SR锁存器实现的交流系统快速差动保护》一文中研究指出分析基于电气量有效值的微机保护的响应延迟问题,指出微机保护的采样数据窗口时间会对电力设备的健康状况及电力系统的暂态稳定性造成负面影响。以单母线差动保护为例,设计了一套基于电流瞬时值的通过光耦和SR锁存器实现的快速差动保护系统,给出了该系统在母线故障前后的相关电气量波形图并进行了分析。分析结果表明,该快速差动保护系统可在相关主设备发生短路故障后立即动作,较传统微机型差动保护能更快切除短路故障,缩短了电力设备经受故障电流时间并提高了系统暂态稳定性。(本文来源于《电工技术》期刊2019年05期）
姚茂群,冯杰,沈珊瑚[4]（2018）在《基于RTD的新型D锁存器设计》一文中研究指出共振隧穿二极管(RTD)作为一种较成熟的量子器件,具有独特的负内阻特性,由RTD组成的单双稳态转换逻辑单元(MOBILE)能够很好地利用该特性进行数字电路设计.基于MOBILE,设计了一种新的RTD输出控制电路.该电路的优点是将RTD的正向和反向电流电压特性相结合,无须使用面积较大的叁端器件,电路设计较便捷.采用RTD输出控制电路和HEMT器件,设计了一种新的D锁存器.该D锁存器采用高电平偏置电压,不仅可使MOBILE获得需要的高电平触发方式,而且电路具有自锁特性.HSPICE仿真实验证明,该D锁存器不仅电路结构简单,而且功耗低、速度快.(本文来源于《浙江大学学报(理学版)》期刊2018年06期）
[5]（2018）在《新型磁性锁存器和开关传感器》一文中研究指出通过将两个IC集成到单个封装中,Melexis可以提供对满足汽车市场可靠性要求至关重要的冗余工作。这也意味着可以在精度方面取得重大改进——因为敏感点比容纳在单独封装中的分立器件要更紧密。具有这个创新封装概念的首批产品是MLX92292和MLX92232。MLX92232是使用最先进的混合信(本文来源于《今日电子》期刊2018年06期）
王启军,闫爱斌[6]（2018）在《一种新颖的双节点翻转自恢复的抗辐射加固锁存器（英文）》一文中研究指出为了有效容忍双节点翻转,提出了一种新颖的22 nm互补金属氧化物半导体工艺下双节点翻转自恢复的抗辐射加固锁存器.使用3个互锁的单节点翻转自恢复单元,并且每个单节点翻转自恢复单元均主要由3个互相反馈的二输入C单元构成,该锁存器达到了双节点翻转自恢复性.使用较小的晶体管尺寸、时钟门控技术和高速传输路径,有效节省了锁存器的开销.实验结果验证了该锁存器的双节点翻转自恢复性,并且与最新的双节点翻转自恢复锁存器相比,该锁存器平均节省了72.54%的传输延迟、33.97%的功耗和78.57%的延迟-功耗-面积复合开销,而平均的面积开销仅增加了16.54%.(本文来源于《Journal of Southeast University(English Edition)》期刊2018年02期）
黄正峰,凤志成,姚慧杰,易茂祥,欧阳一鸣[7]（2018）在《基于混合叁模冗余的容忍双点翻转锁存器》一文中研究指出随着集成电路工艺的飞速发展,电路内部节点对于高能粒子入射的敏感性急速增大,锁存器中辐射效应引起的软错误急剧增多.进入90 nm工艺以后,电荷共享导致的双点翻转已经成为影响可靠性的严重问题.为此,基于混合叁模冗余机制,提出2种加固锁存器结构:TMR-2D1R锁存器和TMR-1D2R锁存器.传统的叁模冗余锁存器包括3个同构的D-latch和1个表决器;TMR-2D1R锁存器包括2个D-latch,1个RHM单元和1个表决器,可以部分容忍双点翻转;TMR-1D2R锁存器包括1个D-latch,2个RHM单元和1个表决器,可以完全容忍双点翻转.与相关加固锁存器进行比较的结果表明,TMR-1D2R锁存器在延迟、功耗、面积和加固性能等方面取得了较好的折中.(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2018年05期）
刘海龙,梁华国,王志,李昕[8]（2018）在《基于脉冲过滤与时域采样的软错误容忍锁存器设计》一文中研究指出随着集成电路工艺尺寸和供电电压的降低,导致电路节点的关键电荷相应减小,使得电路对单粒子效应更加敏感。为了更有效地降低电路的软错误,文章提出了一种高可靠的容软错误锁存器。该锁存器利用具有脉冲过滤技术和时域采样技术的SC单元构建反馈回路,能够完全免疫单粒子翻转(single event upset,SEU),并且利用传输路径的延时差过滤单粒子瞬态(single event transient,SET)。仿真结果表明,在相同条件下,与LSEH-1、LSEH-2锁存器相比,该文提出的锁存器正(负)SET脉冲过滤能力分别提高了65.2%(79.0%)和27.2%(49.7%),且对温度波动和工艺偏差不敏感。(本文来源于《合肥工业大学学报(自然科学版)》期刊2018年02期）
姚慧杰[9]（2018）在《纳米CMOS集成电路多节点翻转加固锁存器设计研究》一文中研究指出随着半导体工艺尺寸进入纳米尺度,器件之间的距离的减小,时钟频率不断增高,电路节点电容减小,关键电荷变小,导致电路节点之间的电荷共享效应愈加严重。集成电路器件处在辐射等敏感环境中时,易受到粒子轰击产生单粒子效应,使得电路的逻辑值发生翻转,影响电路的可靠性。由于电荷共享效应的影响,粒子轰击易导致电路多个节点同时发生翻转,原先的关于单节点翻转的加固方案已经不能满足特殊环境集成电路可靠性的需要。为了提高电路的可靠性,需要针对单粒子效应引起的多节点翻转的问题进行加固研究。本文详细分析了单粒子效应的相关基础知识以及解决单粒子效应的加固技术,在此基础上,提出了两种针对单粒子效应引起的多节点翻转的加固设计。本文详细介绍了单粒子效应的相关基础知识,包括相关概念以及产生机理研究。分析了电荷共享效应的产生机理,随后详细介绍了针对单粒子效应的若干建模和仿真方法。为了解决由单粒子效应所导致的电路可靠性问题,需要对相应的电路进行抗辐射加固设计。本文阐述了目前针对SRAM电路、锁存器和组合逻辑电路的几种电路级加固方案。针对之前锁存器加固方案存在的不足,如开销过大和高阻态问题,不能完全容忍双节点翻转等,本文提出了两种抗辐射加固锁存器MNUTL锁存器和HLDRL锁存器。MNUTL锁存器是基于双模冗余机制的抗辐射加固锁存器,它的两路基本单元为从DICE基础上演变而来的抗辐射加固单元,该单元可以容忍几乎全部的双节点翻转。通过在两个单元的输出端接C单元,阻塞产生的软错误,可以保证该锁存器可以实现单节点翻转自恢复和完全容忍双节点翻转,具有较高的鲁棒性和较小的功耗开销。HLDRL锁存器由18个异构输入反相器组成,当受到单粒子效应影响时,可以实现单节点翻转和双节点翻转的完全自恢复。相比较单节点翻转加固锁存器,该锁存器具有更好的鲁棒性,而对于双节点翻转加固锁存器,该锁存器具有较小的延迟和功耗开销,且不存在高阻态问题,可以被应用于钟控技术电路中。详细的HSPICE仿真实验,验证了该锁存器的容错能力,包括针对高阻态不敏感的问题。通过对比其他加固锁存器,HLDRL锁存器也具有较小的延迟和功耗开销。(本文来源于《合肥工业大学》期刊2018-01-01）
徐锦钢,孙俊杰[10]（2017）在《基于74HC573锁存器的数码管计数器设计与研究》一文中研究指出文章围绕数码管计数器的设计展开论述,使用proteus仿真软件设计和绘制了数码管计数器的电路连接图,并通过数码管观察计数器工作状态,验证了数码管计数器电路及程序设计的正确性,并给出了部分C程序代码。(本文来源于《南方农机》期刊2017年22期）
锁存器论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
文章提出了一种新型的锁存器,采用双模冗余容错技术,能够同时容忍单粒子单节点翻转和单粒子双节点翻转。相比于同类型的加固设计,文中设计的结构延迟平均下降74.40%,功耗平均下降8.32%,功耗-延迟积(power-delay product,PDP)平均下降75.20%,面积平均减少15.76%;而且该锁存器的延迟对工艺、供电电压及温度的波动不敏感。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
锁存器论文参考文献
[1].黄正峰,郭阳,王鑫宇,戚昊琛,徐奇.一种交叉互联的高可靠锁存器[J].测控技术.2019
[2].黄正峰,张阳阳,李雪健,付俊超,徐秀敏.一种容忍单粒子双节点翻转的锁存器设计[J].合肥工业大学学报(自然科学版).2019
[3].刘志学,王庆红,李广凯,陈柔伊,段力勇.通过光耦和SR锁存器实现的交流系统快速差动保护[J].电工技术.2019
[4].姚茂群,冯杰,沈珊瑚.基于RTD的新型D锁存器设计[J].浙江大学学报(理学版).2018
[5]..新型磁性锁存器和开关传感器[J].今日电子.2018
[6].王启军,闫爱斌.一种新颖的双节点翻转自恢复的抗辐射加固锁存器（英文）[J].JournalofSoutheastUniversity(EnglishEdition).2018
[7].黄正峰,凤志成,姚慧杰,易茂祥,欧阳一鸣.基于混合叁模冗余的容忍双点翻转锁存器[J].计算机辅助设计与图形学学报.2018
[8].刘海龙,梁华国,王志,李昕.基于脉冲过滤与时域采样的软错误容忍锁存器设计[J].合肥工业大学学报(自然科学版).2018
[9].姚慧杰.纳米CMOS集成电路多节点翻转加固锁存器设计研究[D].合肥工业大学.2018
[10].徐锦钢,孙俊杰.基于74HC573锁存器的数码管计数器设计与研究[J].南方农机.2017