基于折射率调制的表面等离子体全息衍射效率分析

基于折射率调制的表面等离子体全息衍射效率分析

论文摘要

针对折射率调制的表面等离子体全息显示方案,采用严格耦合波计算方法,仿真了变折射率薄膜正弦光栅结构参数与衍射效率的关系.结果表明,银作为表面等离子体激发材料时,0.2μm为光栅最优厚度,在此基础上,一级次光衍射效率与折射率差值、周期呈正比增长关系.对折射率范围进行了拓展,确定了折射率调制范围在1.34~1.8、周期为0.9μm时,对应的衍射效率可达33%以上.研究结果对于优化设计表面等离子体全息显示结构具有参考意义.

论文目录

  • 0 引言
  • 1 结构及原理
  • 2 仿真结果与讨论
  •   2.1 光栅折射率调制范围与衍射效率的关系
  •   2.2 光栅周期与衍射效率的关系
  •   2.3 折射率与衍射效率的关系
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 王迪,尹韶云,江海波,马宏博,高天元

    关键词: 全息,表面等离子体,严格耦合波分析法,正弦光栅,衍射效率

    来源: 光子学报 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 基础科学

    专业: 物理学

    单位: 长春理工大学光电测控与光信息传输技术教育部重点实验室,中国科学院重庆绿色智能技术研究院集成光电技术中心

    基金: 国家自然科学基金(Nos.61475199,61605208),国家重点研发计划(No.2017YFB1002900)~~

    分类号: O438.1

    页码: 42-48

    总页数: 7

    文件大小: 2718K

    下载量: 100

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