铁电负电容场效应晶体管器件的研究

铁电负电容场效应晶体管器件的研究

论文摘要

铁电负电容场效应晶体管作为一种新型半导体器件,利用铁电材料的负电容效应可使晶体管的亚阈值摆幅突破理论极限值60 mV/dec,是未来低功耗晶体管领域最具有前途的器件之一。该文研究并建立了铁电负电容场效应晶体管的器件模型,采用Matlab软件对负电容场效应晶体管的器件特性进行了研究分析,获得了亚阈值摆幅为33.917 6 mV/dec的负电容场效应晶体管的器件结构,探究了铁电层厚度、等效栅氧化层厚度及不同铁电材料对负电容场效应晶体管亚阈值摆幅的影响。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 器件模型及原理
  •   1.1 铁电材料的负电容效应铁电材料的自由能U为
  •   1.2 NCFET器件模型
  • 2 结果及讨论
  •   2.1 铁电层厚度
  •   2.2 等效栅氧化层厚度
  •   2.3 铁电材料种类
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 李珍,翟亚红

    关键词: 铁电负电容场效应晶体管,低功耗晶体管,亚阈值摆幅,铁电材料,铁电电容

    来源: 压电与声光 2019年06期

    年度: 2019

    分类: 信息科技

    专业: 无线电电子学

    单位: 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室

    基金: 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室开放基金资助项目(ZHD201601),中央高校基本科研业务费专项基金资助项目(ZYGX2016J047)

    分类号: TN386

    页码: 782-785

    总页数: 4

    文件大小: 621K

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