一、触点电接触失效预测理论的研究（论文文献综述）
李林[1]（2021）在《低压断路器触点电气寿命试验及预测研究》文中研究说明低压断路器作为电网中重要的开关设备,在发电厂的各开关控制柜以及配电网络等地方广泛使用,承担着电能的传输、分配以及对用电设备实施保护和控制等功能。低压断路器可靠通断对电网的安全、稳定运行及电气设备的保护起着十分重要的作用,若能及时判断低压断路器的性能状态,在电寿命终结前对其进行检修或更换,可以保证电网的可靠性运行。论文针对低压断路器的电寿命性能退化问题,搭建了电寿命试验系统,通过试验系统可实现低压断路器的自动开断和闭合,同时可监测开断电弧电压及电流等参数;以CM3-100C型断路器为例进行了电寿命试验,分析了接触电阻、触头合闸弹跳、触头侵蚀质量和电寿命之间的关联关系,并在低压断路器电寿命终结后对失效触头表面形貌及化学成分进行了分析,结果表明触头侵蚀质量可较为准确地反映电寿命性能状态。此外,通过单独带载分闸与合闸试验定量分析了分断及闭合过程分别对触头材料侵蚀的影响,结果表明触头材料损失主要来自于分断过程的电弧侵蚀;采用分离电极法测量开断过程中电弧在触头表面的停滞及转移时间,分析了电弧停滞及转移对电寿命性能退化的影响以及开断电流对电弧停滞及转移时间的影响。以各阶段触头累积侵蚀量建立了基于Wiener过程的低压断路器电寿命性能退化模型,采用极大似然估计法对模型参数进行求解,并计算低压断路器剩余电寿命的点估计值与区间估计值。最后,采用Monte-Carlo法模拟低压断路器电寿命性能退化过程,通过仿真数据建立基于Wiener过程的电寿命性能退化模型,并进行可靠性评估及剩余电寿命预测,其预测结果与实际值最大误差为5.64%,误差结果满足工程需求。
郁大照,刘琦,冯利军,程贤斌[2]（2021）在《电连接器微动腐蚀损伤行为与机理研究综述》文中研究指明电连接器在服役期间,其电接触界面很容易受到振动和微位移的影响,并在腐蚀气氛的作用下,产生微动腐蚀损伤。当接触电阻值（Electricalcontactresistance,ECR）超过一定阈值时,即判定为接触失效。人们对电接触微动腐蚀问题的认识过程是随着工业社会的发展和研究手段的进步而不断逐步深入的,因此从行为和机理两个方面综述了微动腐蚀研究的发展和现状。为了降低ECR,提高电接触的耐久性,研究人员围绕材料、镀层种类和厚度、接触力、振幅、频率、温度、相对湿度、气体氛围等因素对微动腐蚀的影响做了大量的试验和分析工作,介绍了其中比较活跃的研究团队以及他们的主要工作。分别详细介绍了Antler和Bryant描述的微动腐蚀模型,4种不同微动滑移状态的产生机制和微观形貌分析,进而对ECR产生的影响。由于电连接器受到振动应力、温度应力和电应力的综合作用,在内部接触件上发生电-热-机械多物理场耦合作用,故综述了材料性能与行为、接触条件和环境条件3个方面10个因素的影响作用。还归纳总结了应用于电接触微动腐蚀研究的主要方法,最后从多因素耦合作用、海洋环境影响和射频连接器应用3个角度探讨了未来研究的重点方向。
吴世辉[3]（2021）在《继电器触点材料消耗试验系统的设计》文中认为继电器是电气工程领域关键的电气控制元件之一,在电力系统的实际应用中起着控制、检测、保护和隔离的作用。继电器动作可靠性直接影响了控制电路的性能,随着继电器动作次数的增加,触点的磨损也在逐渐的增大,当触点材料因为磨损而大量消耗时,继电器失效的概率也开始增大。所以针对继电器触点在多次动作后的材料消耗情况的试验研究就有工程实际意义,而继电器触点材料消耗试验系统为该领域的研究提供了重要的工具。本文在调研了国内外继电器检测系统发展现状的基础上,设计和实现了以上位机为控制核心的继电器触点材料消耗试验系统,实现了直流继电器在各类负载情况下,各项试验参数的测量,为继电器触点材料消耗情况的研究提供数据基础以及继电器的失效分析提供试验条件。本文围绕这方面的内容,结合了以往检测系统的特点,完成了以下工作:1、根据继电器触点消耗试验的要求,确定了试验系统的功能需求并提出了设计方案。完成数据采集卡和工控机的选型,确定信号调理方案,制定试验系统的设计方案,并采用模块化设计方法完成了试验系统的设计。2、完成了试验系统的硬件设计。使用Altium Designer软件设计并焊接了电源模块、信号调理模块、驱动模块和试验回路模块,制定了试验系统的机柜,调理机箱结构设计方案并将其组装完成。3、使用Lab VIEW虚拟仪器平台完成了试验系统的控制程序和数据处理程序。设计了完善的人机交互界面,实现了参数设置、试验控制、系统调试、数据分析等功能。4、对试验系统进行了性能测试。使用试验系统对继电器进行实际试验,将试验数据与测量仪器所测数据进行对比,验证试验系统的精度。通过人为干预失效检测试验验证系统失效判断的可靠性。
李庆娅[4]（2020）在《高频电接触失效机理及可靠性研究》文中认为连接器是通信系统中起连接作用的基础元器件,它被广泛应用于航空航天、新能源汽车、通信与数据传输、医疗等各个领域,同时,随着5G和6G通信技术的发展以及频率和信息传输速率的提高,使得连接器在性能方面的需求与日俱增。连接器经常暴露于外部自然环境或工作于复杂严苛的环境中,则会不可避免地受到这些环境因素的影响,导致性能发生恶化,降低连接器的可靠性,进而造成系统性能恶化。因此,对连接器的环境适应性及可靠性提出了新的要求和挑战。本文对高频电接触失效机理及可靠性进行研究,从理论建模、模拟仿真、实验测试相结合的方法开展了电接触失效对时频域特征变化的影响、电接触失效对调制信号传输的影响、电接触失效引起的电磁辐射特性、以及环境应力作用下的可靠性预计这四个内容的研究,全方位多层次地探索了电接触失效引起的一系列可靠性问题。该研究成果为连接器结构的优化设计及不同场合下型号的选取提供了一定的参考,且可适用于存在有电接触环节的其它器件的理论研究中,因此具有重要的理论与实际应用价值。本文主要研究工作及创新内容如下:1.从微观失效物理及等效电路模型的角度出发,建立了电接触失效特征与宏观时域和频域参数的关系模型,研究了电接触表面性能退化对射频信号传输的影响。依据实际故障连接器的结构、尺寸、材料等特性,建立存在故障连接器接触表面的等效电路模型。针对不同退化环境设计加速试验方案并进行试验,获得不同退化等级的连接器样品,分析不同退化程度的连接器接触表面微观形貌特征,探索等效电路模型中各参数的产生机理。根据连接器在时域中测试的反射电压、时域阻抗,以及在频域中的传输阻抗和散射参数,结合电路仿真,研究等效电路模型中各参数随连接器接触表面退化的变化规律和范围,分析不同退化程度的连接器对时频域参数的影响。2.从信号传输的角度揭示了电接触失效对模拟和数字调制信号的影响机理。基于电接触失效机理及传输线理论,建立失效接触表面及故障连接器的等效模型,采用理论建模及电路仿真模拟相结合的方法探索连接器退化对模拟调制信号AM、FM在时域波形、相位以及数字调制信号QPSK、π/4-DQPSK在星座图、误码率、误差矢量幅度方面的影响。设计并实施加速实验,获得不同等级的故障连接器样本,采用由信号源和示波器搭建的实验平台进行测试,实验和仿真结果的对比发现其一致性较好,进而从理论及实验测试的角度深层次地剖析接触退化对信号传输的影响机理并得到其影响规律。3.从电磁场的角度研究了接触失效产生的电磁泄漏信号,建立了互联装置中电接触的退化特征与电磁辐射特性的关系模型。针对搭建的互联装置,建立等效模型,分析接触失效对高频参数的影响。同时将连接器的内导体建模为泄漏源,依据连接器的实际物理尺寸及张量计算法推导得到泄漏源在时域中产生的辐射电磁场,并结合近场探头的传递函数获得电磁泄漏信号的解析表达式,从理论计算及实验测试的角度阐述了接触不良产生的电磁泄漏机理。采用近场探头测试由于接触不良产生的泄漏信号,并与理论计算结果进行对比,据此证明理论建模及实验测试方法均可较好阐释电接触失效引起的电磁辐射机理。4.基于电接触的失效机理,提出了一种适合于评估电连接器可靠性的性能预测方法,分别选取接触电阻和高频散射参数这两个性能退化量来评估连接器的可靠性。对于寿命预测,首次考虑温度和颗粒物浓度应力的作用,进行可靠性建模,采用均匀设计方法确定加速试验方案并实施试验,测量接触电阻值并以此数据来估计可靠性方程中的未知参数,得到电连接器在温度和颗粒物浓度综合应力下的寿命模型,据此预测其可靠寿命。对于高频性能预测,基于轻微和严重两种退化等级的高频散射参数,选取训练和测试数据,采用BP和Elman神经网络预测连接器不同退化等级下的高频参数,并选择MSE评判预测精度,比较两种神经网络预测的准确性。
吴聪聪[5]（2020）在《随机振动应力下电磁继电器接触可靠性试验评价方法研究》文中指出地铁因具有大容量和高效的运载能力,且采用电力驱动,节能环保,逐渐成为一个城市的交通命脉,其能否正常运行往往影响一个城市的生活节奏,因此对地铁的安全可靠运行提出了越来越高的要求,以保证乘客的人身安全。电磁继电器作为地铁信号电气控制系统中的开关器件,用于闭合或断开信号控制电路,如:车门状态、激活司机台、制动状态、受电弓控制、牵引控制等。随着地铁智能化水平地提升,地铁使用的电磁继电器数量也越来越多,电磁继电器的故障某种程度上会直接影响地铁的安全可靠运行。地铁在运行时,在自身载荷和轨道的共同作用下,车体会产生随机振动。电磁继电器一般集中安装在车体上的电器柜中,车体的随机振动会传递给电磁继电器,导致动静触点间产生相互运动,造成触点微动磨损;同时还会造成触点簧片的应力疲劳,进而影响电磁继电器的电接触性能,造成接触失效,最终影响地铁的安全可靠运行。因此有必要研究随机振动应力下电磁继电器的失效机理和可靠性评价方法。本文以某型号地铁用电磁继电器为研究对象,开展其在随机振动应力下的接触可靠性加速试验评价方法研究,具体研究内容如下:第一章,介绍了本文的研究背景及意义,简述了电接触理论,分析总结了电磁继电器可靠性研究现状、加速退化试验研究现状,在此基础上提出了本文的研究目标和内容。第二章,在分析电磁继电器的结构、工作原理和电气性能、时间性能、机械性能参数的基础上,运用故障模式、影响及危害性分析（FMECA）确定了某型地铁用电磁继电器的关键失效模式为接触电阻增大,并建立了触点接触电阻增大的故障树。并进一步分析了地铁电磁继电器由于负载及断开、闭合动作产生电弧而造成的材料侵蚀与转移,由于振动引起的触点微动磨损、簧片疲劳综合引起的接触失效机理,为开展振动应力下的电磁继电器加速可靠性试验奠定了基础。第三章,提出了随机振动应力下电磁继电器步进应力加速退化试验方案;为了在试验时模拟地铁用电磁继电器的实际工况,设计了控制和负载电路来模拟电磁继电器实际工作电压、负载及通断情况。根据电磁继电器在地铁上的安装情况设计了振动试验夹具,并对夹具进行了振动模态分析,以保证其振动传递能力。确定了接触电阻、吸合时间和释放时间三个特征参数的采集方案。开展了相应试验,获得了接触电阻、吸合时间和释放时间三个特征参数的退化数据,并对试验后的触点进行电镜扫描和能谱分析,验证了接触失效机理。第四章,根据振动应力下地铁用电磁继电器的接触失效机理,结合Wiener过程的特征,建立了步进应力下电磁继电器的接触电阻Wiener过程退化模型,并通过对试验数据的统计检验,验证了其退化过程符合Wiener过程。进一步考虑到电磁继电器接触电阻退化过程的随机性以及样品之间的差异性,将Wiener过程的随机参数和波动参数都看作随机变量,且都假设为正态分布。根据振动应力下的失效机理,确定其加速模型为逆幂律模型。并使用极大似然估计方法估计了相关参数,得到了正常工作条件下地铁用电磁继电器触点接触可靠性的工作寿命约为5.85年,比目前某地铁公司现场使用更换周期5年略长,说明了本试验评价方法的可行性,并能提高试验效率、降低试验成本。第五章,对本文的研究工作进行了总结,指出了其不足之处以及后续的研究方向。
韩春阳[6]（2020）在《银基触点材料电性能模拟实验与寿命预测方法研究》文中研究表明低压电器是各类电气系统中的重要组成元件,随着各类电气系统精密性、复杂性的提高,对低压电器的可靠性要求也在逐步提高。而触点作为低压电器中执行分断功能的部件,对低压电器的正常工作起着至关重要的作用,因此对触点的可靠性进行研究,有助于提高低压电器的可靠性与寿命。本文开发了一套触点材料电性能模拟试验系统,通过该系统完成了Ag Cd O、Ag Sn O2与Ag Ni三种触点材料的电寿命实验。根据采集到的实验数据,对三种材料的退化机制进行了分析,完成了对Ag Ni触点的寿命预测方法的研究。首先,以推杆型电磁继电器为模拟对象,设计了触点材料电性能模拟试验系统的机械动作结构、测量控制电路和相应的人机交互软件。其中机械结构部分可以实现触点开距、超行程等机械参数的调节功能,电路部分可以实现动作控制、信号调理和数据通信的功能,而软件部分则可以对原始电压电流信号以及力信号进行采集并计算触点静压力、接触电阻、燃弧能量、回跳时间等数据。在直流负载条件下对三种触点进行了电寿命实验,并对采集到的数据进行比较与分析,对触点的退化机制进行分析与解释。其次,提出了一种基于PSO-BP神经网络的触点材料寿命预测方法。首先对采集到的接触电阻、静压力、燃弧时间、回跳时间等性能数据进行预处理,根据单调性、相关性、离散性指标的评价结果,确定了最后一次回跳时间、回跳能量、回跳时间可作为Ag Ni寿命预测所使用的电性能数据。通过PSO-BP神经网络构建了相应的模型并进行训练,训练结果显示选择的三种性能参数与神经网络模型具有较好的预测精度。最后,针对BP神经网络易出现过拟合、测试集表现不佳的问题,构建深度置信网络（DBN）,将性能数据的特征映射到高维空间,利用高维特征数据进行预测,同时利用粒子群优化算法确定了较优的DBN网络节点数。结果表明五层DBN网络的预测精度较高,训练时间适中,可以较好地对触点材料的寿命进行预测。本研究可为触点材料电性能模拟与性能评估提供方法,同时对触点材料失效机理分析以及寿命预测方法的研究也具有一定的参考价值。
王占[7]（2020）在《银金属氧化物触点材料电接触特性实验研究》文中指出触点是多种开关电器（接触器、继电器、断路器等）完成信号导通与电流分断的直接执行部件,如今各种合金及复合触点材料已普遍应用于触点当中,触点材料的电接触性能影响着各配电、控制系统的可靠性。为了更准确地评价银金属氧化物触点材料的电接触性能,完善触点材料的优选。本文以Ag Sn O2、Ag Cd O、Ag Ni三种触点材料为研究对象,设计了一种新型电接触自动模拟测试系统。采用电接触模拟测试方法对触点电性能敏感退化参数进行获取与分析,进而研究了不同实验条件下的电性能退化过程和寿命预测过程,分析触点动熔焊现象、粘接特性及其失效物理机制。首先,设计并开发了一种新型单工位触点电接触特性测试分析系统。该系统能够模拟真实开关电器中动、静触点的分/合动作过程,可调节触点磁间隙、触点开距、空程和超行程等机械参数,亦可方便更换动、静触点材料。其硬件测试主回路实现了电参数和触点动态力的实时同步测量,基于Lab VIEW的上位机系统实现了接触电阻、静压力、燃弧能量、回跳能量及相关时间参数的计算、显示与存储。其次,在相同阻性负载等级下,通过实验比较研究了三种触点材料的接触电阻、静压力、燃弧能量、回跳能量等参数退化过程,进而分析其敏感退化参数失效物理机制,通过分析接触电阻退化参数对Ag Sn O2触点进行了寿命预测与评价。最后,实验研究了不同负载等级、不同触点开距下Ag Sn O2触点的重要退化参数变化特点,利用电子显微镜观察Ag Sn O2动作失效后的微观表面形态,分析了Ag Sn O2触点的动熔焊特性、表面粘接特性及其失效机理。此外,通过实验研究了接触压力和负载条件对其粘接特性的影响。实验结果表明,电接触模拟测试方法比传统的电仿真方法得出的数据更直观、更准确。结合对实例波形的对比分析,总结得出Ag Cd O的综合电性能最好。Ag Sn O2电接触模拟实验过程中熔焊程度随负载等级的增加而上升、随触点开距的减小而增大。本文的研究成果可为触点材料的电性能科学评价与组分优化、改进提供一定的参考,为继电器等含触点电器的设计提供一定的理论依据。
金秋延[8]（2020）在《射频连接器无源互调建模及信号干扰研究》文中认为无源互调（PIM,Passive intermodulation）是一种通信系统中存在的干扰现象。随着无线通信技术的发展,大功率发射机、收发复用天线、密集频谱资源的普及应用以及高灵敏度接收机的需求,都使得通信系统中无源器件产生的互调干扰问题日益突出,成为限制系统容量一个极其重要的因素。在众多无源器件中,射频连接器的用量最大、种类繁多,是连接不同模块以及传递信号的重要基础元件。当连接器工作于大气环境中时,恶劣环境将会导致接触表面退化和材料性能改变,进而对互调性能产生消极影响。因此,连接器的无源互调性能将直接影响到整机系统的信号完整性,是决定系统可靠性的关键器件。本文对射频连接器无源互调机理与信号特征进行研究与建模,主要包括:接触非线性引起的无源互调机理研究、材料非线性引起的无源互调机理研究、恶劣环境引起射频连接器退化对互调性能的影响,以及系统中无源互调应用研究四个部分。四个研究内容相互联系,从器件建模到系统分析,从微观表面到宏观电路,从理论推导与仿真分析,到实验验证,全面阐述了射频连接器的无源互调特征以及其干扰信号的影响。该研究成果为低互调设计以及低互调需求的连接器选型具有理论指导意义,同时,该研究成果也可推广到其他无源器件和系统的无源互调理论研究中。本文主要创新成果如下:1.基于接触表面的物理建模与非线性数学特征分析,建立了接触引起的无源互调产生机理模型。发展了连接器接触表面的等效电路模型,将表面微观物理参量,如接触压力、表面粗糙度、接触面积等与宏观电路参数（电阻、电容）建立了联系。根据连接处的不同传导机理,分析了不同非线性传递函数对连接器无源互调功率预测模型的影响。建立了基于接触点功率截顶失真模型的非线性传导机理,从物理机理上阐述了接触表面微观变化对宏观互调产物功率性能的影响规律。并设计验证实验,对比实测和理论预测结果,验证了所建模型的有效性。2.基于连接器镀层和基底金属中磁性材料的非线性效应,建立了材料非线性引起的无源互调产生机理模型。建立了有限元分析模型,研究在不同频率下,连接器内导体横截面上,不同金属区域内的磁化现象,并得到了电流密度分布。根据磁性金属的磁滞效应,建立磁性区域电流引起的非线性电阻模型,进而推导出互调产物功率的理论预测模型。设计了不同镀层和基底材料的连接器样本进行互调实验,验证了所建模型的有效性。3.基于强氧化环境、振动环境、温变环境,建立了不同恶劣环境下,连接器退化引起的无源互调特性变化的预测模型。在不同环境应力下,对连接器的失效机理进行分析,提取了环境应力引起的退化特征。建立了退化特征,如:接触表面腐蚀率、接触产生的形变量、材料物理特性（磁导率、电导率、硬度等）与互调产物功率之间关系的理论预测模型。设计并开展针对不同环境应力的加速试验,得到对应环境应力作用下的退化连接器样本,开展互调测试实验,验证了所建模型的有效性。4.基于多互调点的叠加效应,建立了多互调源串联系统的无源互调模型。根据不同型号射频连接器的互调产物故障特征,提出了一种利用BP（Error Back Propagation）神经网络对无源互调异常点进行定位的分析方法。考虑有源信号补偿和无源非线性网络插入的方法,从理论分析角度,提出四种系统互调干扰抑制方案。经过仿真和实验测试,对比分析不同抑制方案的优势,并验证了所提方案的有效性。
张雯[9]（2020）在《振动条件下电连接器接触件步进应力加速退化试验研究》文中研究指明电连接器是电子电气系统中用于传递电信号的必不可少的元件,电信号的传递主要靠接触件完成。而系统中电信号的丢失往往会引起系统故障甚至瘫痪,因此对电连接器接触件的可靠性进行研究很有必要。电连接器接触件的可靠性主要受到温度和振动应力的影响,本文主要研究振动应力下电连接器接触件的性能退化过程。为了便于观测,选择接触件尺寸较大的Y1XX-XX圆形电连接器接触件为研究对象,从接触特性仿真和加速退化试验两个方向对振动应力下电连接器接触件的失效情况进行研究。首先对电连接器的电接触失效模式进行探讨,确定了主要失效原因;建立了包含接触件、橡胶件和外圈的有限元仿真模型,分析了不同的振动激励条件下电连接器接触件的接触特性,验证了电接触失效原因;设计并开展了步进应力加速退化试验,获取性能特征量的退化数据后使用Wiener过程对其退化过程进行描述,估计出参数后确定了本文研究对象的寿命随振动量级的变化情况。第一章,介绍了本文的研究背景和意义,简述了电接触的基本理论和现有的振动条件下电连接器接触件的失效研究概况,对可靠性加速退化试验方法和退化数据统计分析方法进行总结,提出了本文的研究目标与内容。第二章,在了解了电连接器结构的基础上,分析了电连接器接触件的接触和接触压力理论模型,提出了电连接器接触件电接触失效的主要模式,建立电接触失效故障树,重点阐明了振动条件下电连接器接触件的电接触失效原因,分析了振动环境下插孔插针表面间的微动磨损和接触压力减小引起电接触失效的机理。第三章,基于电连接器接触件振动条件下的动力学简化模型建立了仿真模型,使用ABAQUS对其进行接触特性仿真,获取其插拔力变化确定接触件的受力分布情况。分别进行正弦和随机振动仿真,确定了不同振动激励条件下电连接器接触件的振动响应,得到了插孔和插针间的相对位移和插孔簧片根部应力的变化规律,为第四章退化模型的建立提供了依据。第四章,建立了随机振动应力作用下,接触电阻基于Wiener过程的退化模型,考虑漂移系数和扩散系数的随机性,结合加速因子不变原则建立了漂移系数和扩散系数的加速模型并给出了基于上述模型的步进应力加速退化试验数据统计分析方法。制定了振动环境下接触件步进应力加速退化试验方案并开展试验,通过对接触件插拔力的研究和对接触表面的微观分析印证了对振动条件下失效机理的分析,对试验数据的统计分析验证了所建模型的可用性,给出了接触件寿命和振动量级间的关系,实现了振动环境下电连接器接触件可靠性的快速评估。第五章,对本文的研究内容及结果进行总结,并提出研究的不足之处,对的研究内容提出展望。
楚晓扬[10]（2020）在《乘客电梯门锁触点故障预警方法研究》文中认为电梯门锁触点是电梯的关键部件,关系到乘客安危。电梯门锁触点一直是电梯门系统故障的重要组成部件,其在电梯门系统中所有故障中占比很高,对其开展研究实现故障预警有重大意义。为了提高电梯门系统运行的安全性和可靠性,本文以电梯门锁触点为对象,开展了故障预警方法的研究。本文的具体内容如下。第一章,针对电梯门锁触点的故障预警研究进行了其研究背景和意义的分析总结,研究分析了国内外电梯门锁触点故障预警的方法和应用研究现状;并结合当前现有的研究进展,提出了本文研究内容。第二章,针对电梯门锁触点开展失效机理的研究;并利用电镜和能谱仪观察分析结果验证了失效机理的正确性;并利用分析结果研究了层门锁触点的失效表征参量。第三章,构建了电梯门锁触点故障预警研究方法。根据层门锁触点失效机理,确定状态表征参量为接触电阻;提出基于开尔文四线法的测量方法,搭建层门锁触点的工况模拟电路,并采集了触点运行时的电阻数据;根据状态数据的特性,选择了随机时序法构建基于状态数据的预测模型;然后利用滑动窗口理论提出了有效的故障预警阈值设定原则。第四章,设计了故障预警试验系统验证门锁触点故障预警方法的有效性。首先分析了门锁触点故障预警试验系统的功能需求,并设计试验系统所需的软硬件功能模块;然后在实验室条件下,搭建试验台进行层门锁触点的工作模拟试验;最后,利用采集数据对故障预警方法的有效性进行验证。第五章,总结了本文的研究内容,并提出了本文研究存在的不足,给出了可深入研究的方向和建议。
二、触点电接触失效预测理论的研究（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、触点电接触失效预测理论的研究（论文提纲范文）
（1）低压断路器触点电气寿命试验及预测研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 1 绪论 |
| 1.1 研究背景与意义 |
| 1.2 低压断路器概述 |
| 1.2.1 低压断路器结构及工作原理 |
| 1.2.2 低压断路器电寿命失效模式 |
| 1.3 国内外研究现状 |
| 1.3.1 低压断路器电寿命失效过程研究现状 |
| 1.3.2 低压断路器电寿命预测技术研究现状 |
| 1.4 主要研究内容 |
| 2 低压断路器电寿命试验系统 |
| 2.1 试验研究对象 |
| 2.2 试验操作平台 |
| 2.2.1 试验电源 |
| 2.2.2 试验主控制 |
| 2.2.3 手柄驱动 |
| 2.3 数据采集系统 |
| 2.4 本章小结 |
| 3 低压断路器电寿命性能退化试验及分析 |
| 3.1 低压断路器电寿命性能退化试验 |
| 3.1.1 试验条件 |
| 3.1.2 电寿命性能参数退化分析 |
| 3.1.3 失效触头形貌及化学成分分析 |
| 3.2 开断及闭合过程对电寿命性能退化的影响 |
| 3.2.1 低压断路器开断及闭合过程 |
| 3.2.2 开断及闭合过程对电寿命性能的影响 |
| 3.3 开断过程中电弧停滞及转移对电寿命性能退化的影响 |
| 3.3.1 分离电极法原理 |
| 3.3.2 电弧停滞及转移对电寿命性能退化的影响 |
| 3.3.3 开断电流对电弧停滞及转移时间的影响 |
| 3.4 本章小结 |
| 4 基于Wiener过程的低压断路器电寿命性能退化研究 |
| 4.1 低压断路器触头单次开断侵蚀模型 |
| 4.1.1 单次开断触头侵蚀模型 |
| 4.1.2 单次侵蚀模型参数求解 |
| 4.2 基于Wiener过程的低压断路器电寿命性能退化模型 |
| 4.2.1 Wiener过程的一般退化模型 |
| 4.2.2 基于Wiener过程的电寿命性能退化模型 |
| 4.3 低压断路器剩余电寿命预测模型 |
| 4.3.1 低压断路器剩余电寿命概率分布 |
| 4.3.2 低压断路器剩余电寿命预测结果分析 |
| 4.4 实例分析 |
| 4.5 本章小结 |
| 5 结论及展望 |
| 5.1 结论 |
| 5.2 展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读学位期间主要研究成果 |
（2）电连接器微动腐蚀损伤行为与机理研究综述（论文提纲范文）
| 1 电连接器微动腐蚀损伤行为与机理 |
| 1.1 微动腐蚀损伤行为研究 |
| 1.2 微动腐蚀损伤机理研究 |
| 1.3 主要影响因素 |
| 1.3.1 材料性能与行为 |
| 1.3.2 接触条件 |
| 1.3.3 环境条件 |
| 2 电连接器微动腐蚀的主要研究方法 |
| 2.1 试验观测法 |
| 2.2 理论分析法 |
| 2.3 有限元仿真分析法 |
| 3 电连接器微动腐蚀研究的发展趋势 |
（3）继电器触点材料消耗试验系统的设计（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题研究目的和意义 |
| 1.2 继电器可靠性国内外发展现状 |
| 1.3 继电器参数检测国内外发展现状 |
| 1.4 本文主要研究内容 |
| 第二章 系统设计原理和方案设计 |
| 2.1 系统试验原理 |
| 2.2 数据采集系统 |
| 2.2.1 试验系统计算机选型 |
| 2.2.2 数据采集板卡选型 |
| 2.2.3 电压信号调理原理 |
| 2.2.4 电流测量原理 |
| 2.3 继电器驱动原理 |
| 2.4 试验系统方案设计 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 试验系统硬件设计 |
| 3.1 调理机箱整体结构设计 |
| 3.2 电源模块设计 |
| 3.3 试验回路模块设计 |
| 3.4 驱动模块设计 |
| 3.5 信号调理模块设计 |
| 3.5.1 示波器探头电路 |
| 3.5.2 运算放大电路 |
| 3.5.3 模拟开关芯片 |
| 3.6 试验系统整体结构设计 |
| 3.7 本章小结 |
| 第四章 试验系统软件设计 |
| 4.1 Lab VIEW简介 |
| 4.2 主界面设计 |
| 4.3 参数设置界面设计 |
| 4.4 系统校准界面设计 |
| 4.4.1 SCPI原理 |
| 4.4.2 系统校准控制过程 |
| 4.5 调试界面设计 |
| 4.6 测量界面设计 |
| 4.6.1 测量界面功能介绍 |
| 4.6.2 系统测量功能设计 |
| 4.6.3 数据处理 |
| 4.6.4 失效判断 |
| 4.7 本章小结 |
| 第五章 系统性能测试 |
| 5.1 试验系统性能测试 |
| 5.1.1 试验条件 |
| 5.1.2 试验系统性能指标 |
| 5.1.3 试验系统测试结果 |
| 5.2 人为干涉失效试验 |
| 5.3 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 总结 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 在学期间主要研究成果 |
（4）高频电接触失效机理及可靠性研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景及意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.2.1 电接触可靠性研究现状 |
| 1.2.2 连接器接触可靠性研究现状 |
| 1.2.3 电连接器可靠性及寿命预测研究现状 |
| 1.3 论文创新点 |
| 1.3.1 建立了电接触失效特征与宏观时域和频域参数的关系模型 |
| 1.3.2 揭示了电接触失效对模拟及数字调制信号的影响机理和影响规律 |
| 1.3.3 建立了电接触失效特征与互联装置电磁辐射特性的关系模型 |
| 1.3.4 提出了一种适用于评估电连接器可靠性的性能预测方法 |
| 1.4 论文主要工作 |
| 第二章 电接触失效对时频域特征变化的影响研究 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 电接触表面特征分析 |
| 2.2.1 表面粗糙度参数 |
| 2.2.2 表面粗糙度测试与分析 |
| 2.2.3 故障表面观测与分析 |
| 2.3 电接触失效引起的时域特征变化研究 |
| 2.3.1 时域反射计 |
| 2.3.2 实验设置 |
| 2.3.3 实验结果与讨论 |
| 2.3.4 模型建立与验证 |
| 2.4 电接触失效引起的频域特征变化研究 |
| 2.4.1 频域参数 |
| 2.4.2 实验设置 |
| 2.4.3 模型建立与分析 |
| 2.4.4 结果验证与讨论 |
| 2.5 电接触失效引起的时频域阻抗特征研究 |
| 2.5.1 阻抗模型建立 |
| 2.5.2 结果与验证 |
| 2.6 本章小结 |
| 第三章 电接触失效对调制信号传输的影响研究 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 连接器等效模型建立 |
| 3.2.1 失效接触表面建模 |
| 3.2.2 失效连接器建模 |
| 3.3 电接触失效对模拟调制信号的影响研究 |
| 3.3.1 模拟调制信号简介 |
| 3.3.2 结果与讨论 |
| 3.4 电接触失效对数字调制信号的影响研究 |
| 3.4.1 数字调制信号简介 |
| 3.4.2 结果与讨论 |
| 3.5 本章小结 |
| 第四章 电接触失效引起的电磁辐射特性研究 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 电接触失效模型及实验装置研究 |
| 4.2.1 模型搭建 |
| 4.2.2 实验装置 |
| 4.3 电接触失效对高频参数及频谱的影响研究 |
| 4.3.1 高频参数影响分析 |
| 4.3.2 泄漏频谱影响分析 |
| 4.4 电接触失效对泄漏信号的影响研究 |
| 4.4.1 等效模型建立与分析 |
| 4.4.2 泄漏信号建模研究 |
| 4.4.3 结果与讨论 |
| 4.5 本章小结 |
| 第五章 环境应力作用下的可靠性预计研究 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 不同环境应力作用下的可靠性建模研究 |
| 5.2.1 环境应力引起接触失效机理分析 |
| 5.2.2 环境应力作用下的故障物理方程 |
| 5.2.3 失效寿命分布函数 |
| 5.3 温度和颗粒物综合应力作用下的寿命预测研究 |
| 5.3.1 加速试验方案 |
| 5.3.2 寿命预测分析 |
| 5.4 基于神经网络的高频性能预测方法研究 |
| 5.4.1 BP神经网络 |
| 5.4.2 Elman神经网络 |
| 5.4.3 高频性能预测算例 |
| 5.5 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 全文工作总结 |
| 6.2 未来工作展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 攻读学位期间取得的成果 |
（5）随机振动应力下电磁继电器接触可靠性试验评价方法研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 研究背景及意义 |
| 1.2 电磁继电器可靠性研究现状 |
| 1.3 加速退化试验研究现状 |
| 1.3.1 恒定应力加速退化试验 |
| 1.3.2 步进应力加速退化试验和序进应力加速退化试验 |
| 1.4 基于性能退化数据建模的研究现状 |
| 1.5 论文研究目标和主要研究内容 |
| 第2章 地铁用电磁继电器的失效机理分析 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 电磁继电器的结构组成及工作原理 |
| 2.3 电磁继电器的性能参数 |
| 2.3.1 电气性能参数 |
| 2.3.2 时间性能参数 |
| 2.3.3 机械性能参数 |
| 2.4 地铁用电磁继电器的故障模式及失效分析 |
| 2.5 电磁继电器接触失效机理分析 |
| 2.5.1 电接触理论 |
| 2.5.2 不同负载情况下电磁继电器触点失效模式 |
| 2.5.3 电磁继电器在振动环境和工作负载下的接触失效机理分析 |
| 2.6 本章小结 |
| 第3章 随机振动条件下电磁继电器步进应力加速退化试验方法 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 地铁用电磁继电器步进随机振动应力加速退化试验方案设计 |
| 3.2.1 试验应力水平 |
| 3.2.2 试验样本量、试验时间和性能参数测试时间间隔 |
| 3.3 地铁用电磁继电器通断控制和负载模拟方案 |
| 3.4 地铁用电磁继电器的振动夹具设计 |
| 3.5 电磁继电器性能表征参数测量方案 |
| 3.6 试验过程及结果分析 |
| 3.7 本章小结 |
| 第4章 试验数据的统计分析 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 Wiener过程退化模型 |
| 4.2.1 Wiener过程 |
| 4.2.2 试验数据正态分布检验 |
| 4.2.3 可靠性建模 |
| 4.3 加速模型 |
| 4.4 参数估计方法及可靠性寿命计算 |
| 4.5 本章小结 |
| 第5章 总结与展望 |
| 5.1 总结 |
| 5.2 展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 攻读硕士期间获得研究成果和参与项目 |
（6）银基触点材料电性能模拟实验与寿命预测方法研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 课题背景 |
| 1.2 课题的研究目的与意义 |
| 1.3 国内外研究现状 |
| 1.3.1 触点材料研究现状 |
| 1.3.2 触点材料性能测试技术现状 |
| 1.3.3 触点材料寿命预测方法研究现状 |
| 1.4 本文主要研究内容 |
| 第2章 触点材料电性能模拟实验系统设计 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 系统总体方案设计 |
| 2.2.1 系统主要功能与技术指标 |
| 2.2.2 总体方案 |
| 2.3 机械系统设计 |
| 2.4 测量控制电路设计 |
| 2.4.1 电性能参数测量模块 |
| 2.4.2 力信号测量模块 |
| 2.5 系统软件设计 |
| 2.5.1 电性能参数提取计算 |
| 2.5.2 上位机人机交互软件 |
| 2.6 本章小结 |
| 第3章 AgCdO、AgSnO_2、AgNi触点材料退化过程与失效机理分析 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 实验条件及典型波形分析 |
| 3.2.1 实验条件 |
| 3.2.2 典型波形分析 |
| 3.3 触点材料电性能退化过程分析 |
| 3.3.1 接触电阻退化过程分析 |
| 3.3.2 电弧退化过程分析 |
| 3.3.3 静压力退化过程分析 |
| 3.3.4 回跳过程分析 |
| 3.3.5 触点失效机理分析 |
| 3.4 本章小结 |
| 第4章 基于PSO-BP神经网络的触点材料寿命预测 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 实验数据预处理 |
| 4.2.1 小波分析基本原理 |
| 4.2.2 趋势项提取 |
| 4.3 触点性能参数筛选 |
| 4.4 PSO优化BP神经网络 |
| 4.5 基于PSO-BP神经网络的寿命预测实现 |
| 4.6 实验结果与分析 |
| 4.7 本章小结 |
| 第5章 基于深度置信网络的触点材料寿命预测 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 受限玻尔兹曼机 |
| 5.3 DBN网络在触点材料寿命预测中的应用 |
| 5.3.1 RBM单元的构建 |
| 5.3.2 DBN网络模型 |
| 5.3.3 DBN层数及隐含层节点的确定 |
| 5.4 预测结果对比 |
| 5.5 本章小结 |
| 总结 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 |
| 致谢 |
（7）银金属氧化物触点材料电接触特性实验研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 课题的研究背景 |
| 1.2 课题研究目的和意义 |
| 1.3 国内外研究现状及分析 |
| 1.3.1 触点电接触测试系统研究现状 |
| 1.3.2 接触电阻测试分析研究现状 |
| 1.3.3 触点动熔焊特性研究现状 |
| 1.3.4 触点粘接特性研究现状 |
| 1.4 本文的主要研究内容 |
| 第2章 银金属氧化物触点材料电接触特性测试分析系统设计 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 系统总体研究方案设计 |
| 2.2.1 总体技术方案 |
| 2.2.2 系统主要功能及技术指标 |
| 2.3 机械系统设计 |
| 2.3.1 触点开距/超行程调整机构 |
| 2.3.2 电磁铁线圈驱动机构 |
| 2.3.3 推杆作用点调节机构 |
| 2.3.4 力传感器连接机构 |
| 2.4 系统硬件电路设计 |
| 2.4.1 电参数测量模块 |
| 2.4.2 接触电阻测量模块 |
| 2.4.3 动态力测量模块 |
| 2.4.4 多通道数据采集与处理模块 |
| 2.5 系统上位机软件设计 |
| 2.5.1 实验过程控制程序 |
| 2.5.2 电性能综合参数计算程序 |
| 2.5.3 串口通讯程序设计 |
| 2.5.4 人机交互界面显示 |
| 2.6 系统下位机软件设计 |
| 2.7 本章小结 |
| 第3章 相同负载等级下三种不同触点材料电性能退化过程实验研究 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 银金属氧化物触点材料电接触退化实验研究 |
| 3.2.1 实验条件 |
| 3.2.2 性能退化参数确定 |
| 3.2.3 电性能参数退化过程比较 |
| 3.3 敏感参数退化失效物理机制分析 |
| 3.3.1 接触电阻退化机制分析 |
| 3.3.2 静压力退化机制分析 |
| 3.3.3 回跳能量退化机制分析 |
| 3.3.4 燃弧能量退化机制分析 |
| 3.4 触点电寿命预测及分析 |
| 3.4.1 回归模型建立及参数估计 |
| 3.4.2 电寿命预测与评价 |
| 3.5 本章小结 |
| 第4章 阻性负载下银氧化锡触点材料动熔焊特性的实验研究 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 阻性负载下触点分合过程 |
| 4.2.1 闭合过程典型波形分析 |
| 4.2.2 分断过程典型波形分析 |
| 4.3 银氧化锡触点材料动熔焊失效的实验分析 |
| 4.3.1 实验条件 |
| 4.3.2 不同负载等级下退化过程比较 |
| 4.3.3 不同开距下退化过程比较 |
| 4.4 银氧化锡动熔焊失效机理分析 |
| 4.4.1 动熔焊产生过程 |
| 4.4.2 熔焊力分析 |
| 4.4.3 动熔焊失效机理解释 |
| 4.5 本章小结 |
| 第5章 银氧化锡触点材料表面粘接现象的实验研究 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 实验条件与过程 |
| 5.3 粘接电阻与粘接力的关系 |
| 5.4 粘接特性物理退化机理分析 |
| 5.4.1 粒子喷溅模型—PSD模型 |
| 5.4.2 粘接失效机理分析 |
| 5.5 粘接特性的影响因素 |
| 5.5.1 接触压力对冷粘特性的影响 |
| 5.5.2 负载条件与粘接特性之间的关系 |
| 5.6 本章小结 |
| 论文总结与展望 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 |
| 致谢 |
（8）射频连接器无源互调建模及信号干扰研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 符号说明 |
| 缩写词中英对照表 |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 选题背景及研究意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.2.1 无源互调产生机理研究现状 |
| 1.2.2 微波器件无源互调研究现状 |
| 1.2.3 连接器性能可靠性研究现状 |
| 1.2.4 系统无源互调研究现状 |
| 1.2.5 研究现状分析 |
| 1.3 论文创新点 |
| 1.3.1 建立了电接触表面引起的无源互调产生机理模型 |
| 1.3.2 建立了连接器材料引起的无源互调产生机理模型 |
| 1.3.3 建立了不同环境应力下连接器退化对无源互调影响的行为模型 |
| 1.3.4 提出了系统故障PIM点的定位方法和系统PIM干扰抑制方法 |
| 1.4 论文主要工作 |
| 第二章 接触非线性引起的无源互调模型 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 接触表面等效物理模型 |
| 2.2.1 接触表面的等效阻抗网络 |
| 2.2.2 模型参数的物理建模 |
| 2.2.3 连接处的双音输入模型 |
| 2.3 基于不同I-V曲线的PIM建模 |
| 2.3.1 PIM的非线性数学建模 |
| 2.3.2 互调信号特征分析 |
| 2.3.3 实验研究 |
| 2.4 电接触点电流截顶失真引起的PIM建模 |
| 2.4.1 截顶失真传递函数 |
| 2.4.2 电接触的PIM预测模型 |
| 2.4.3 实验设置与结果讨论 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 材料非线性引起的无源互调模型 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 连接器内导体等效FEA模型仿真研究 |
| 3.2.1 连接器内导体FEA模型建立 |
| 3.2.2 有无磁性镀层的磁化强度对比 |
| 3.2.3 信号频率对电流密度分布影响 |
| 3.2.4 表面镀层电导率对电流密度分布影响 |
| 3.2.5 表面镀层厚度对电流密度分布的影响 |
| 3.2.6 基底材料磁导率对电流密度分布的影响 |
| 3.3 磁性材料引起的PIM模型 |
| 3.3.1 磁性材料的磁滞效应 |
| 3.3.2 非线性磁阻效应 |
| 3.3.3 不同镀层材料的连接器PIM预测 |
| 3.3.4 基底材料中含铁量引起的PIM预测 |
| 3.4 射频连接器材料非线性的实验研究 |
| 3.4.1 实验样本 |
| 3.4.2 实验设置 |
| 3.4.3 实验结果与讨论 |
| 3.5 本章小结 |
| 第四章 环境引起的连接器退化对无源互调的影响研究 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 强氧化环境对连接器PIM的影响 |
| 4.2.1 物理特征分析与PIM建模 |
| 4.2.2 实验设计 |
| 4.2.3 理论预测与实验验证 |
| 4.3 振动及多次插拔对连接器PIM的影响 |
| 4.3.1 物理特征分析与PIM建模 |
| 4.3.2 实验设计 |
| 4.3.3 理论预测与实验验证 |
| 4.4 不同温度对连接器PIM的影响 |
| 4.4.1 物理特征分析与PIM建模 |
| 4.4.2 实验设计 |
| 4.4.3 理论预测与实验验证 |
| 4.5 本章小结 |
| 第五章 系统无源互调特征建模与应用研究 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 串联多点互调源叠加效应研究 |
| 5.2.1 基于传输线理论的多PIM源行为模型 |
| 5.2.2 基于电路仿真的多PIM源行为模型 |
| 5.2.3 实验验证 |
| 5.3 系统故障PIM源的定位方法研究 |
| 5.3.1 单个PIM源的特征选取与等效电路模型 |
| 5.3.2 不同类型连接器串联系统PIM特征选取 |
| 5.3.3 神经网络训练与故障PIM源定位 |
| 5.4 系统互调干扰抑制方法研究 |
| 5.4.1 非线性系统的等效电路建模 |
| 5.4.2 有源干扰抑制方案 |
| 5.4.3 无源干扰抑制方案 |
| 5.4.4 不同抑制方案的比较 |
| 5.4.5 互调抑制方案实验研究 |
| 5.5 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 全文总结 |
| 6.2 后续工作展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 攻读博士期间取得的成果 |
（9）振动条件下电连接器接触件步进应力加速退化试验研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 研究背景与意义 |
| 1.2 电接触基本理论 |
| 1.3 振动条件下电连接器接触件失效研究现状 |
| 1.4 加速退化试验研究现状 |
| 1.4.1 加速退化试验方法研究现状 |
| 1.4.2 加速退化试验数据统计分析方法研究现状 |
| 1.5 论文主要研究内容 |
| 1.5.1 研究目标 |
| 1.5.2 研究内容与结构 |
| 第2章 电连接器基本结构及电接触失效模式分析 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 电连接器基本结构 |
| 2.3 电连接器接触件接触分析 |
| 2.3.1 电连接器接触件接触阻抗分析 |
| 2.3.2 电连接器接触件力学模型 |
| 2.4 电连接器接触件振动失效模式分析 |
| 2.4.1 电接触失效模式分析 |
| 2.4.2 振动条件下电接触失效原因探讨 |
| 2.5 本章小结 |
| 第3章 振动条件下电连接器接触件接触特性分析 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 电连接器接触件动力学模型分析及模型简化 |
| 3.3 电连接器接触件仿真模型模态分析 |
| 3.4 电连接器接触件振动响应分析 |
| 3.4.1 电连接器接触件正弦振动响应分析 |
| 3.4.2 电连接器接触件随机振动响应分析 |
| 3.5 本章小结 |
| 第4章 电连接器接触件步进应力加速退化试验及统计分析 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 退化过程建模 |
| 4.2.1 退化模型 |
| 4.2.2 加速模型 |
| 4.2.3 模型参数估计 |
| 4.3 电连接器接触件步进应力加速退化试验方案设计 |
| 4.3.1 试验参数的确定 |
| 4.3.2 试验样品的准备 |
| 4.3.3 电连接器接触件性能特征量测试方法 |
| 4.4 电连接器接触件步进应力加速退化试验结果 |
| 4.4.1 电连接器接触件表面形貌变化 |
| 4.4.2 电连接器接触件性能特征量监测结果 |
| 4.5 电连接器接触件步进应力加速退化试验统计分析 |
| 4.5.1 接触电阻退化数据分析 |
| 4.5.2 可靠寿命计算 |
| 4.6 本章小结 |
| 第5章 总结与展望 |
| 5.1 总结 |
| 5.2 展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 攻读硕士期间的研究成果和参与项目 |
（10）乘客电梯门锁触点故障预警方法研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题背景和意义 |
| 1.2 故障预警方法研究现状 |
| 1.3 电梯门锁触点故障预警方法研究现状 |
| 1.4 本文研究内容和技术路线 |
| 第二章 电梯门锁触点失效机理分析 |
| 2.1. 引言 |
| 2.2. 层门锁触点失效机理分析 |
| 2.3. 本章小结 |
| 第三章 门锁触点故障预警方法研究 |
| 3.1. 引言 |
| 3.2. 故障预警模型建立 |
| 3.2.1. ARIMA(p,d,q)模型简介 |
| 3.2.2. 时序平稳性检验 |
| 3.2.3. 模型的识别 |
| 3.2.4. 模型参数估计 |
| 3.2.5. 模型检验 |
| 3.3. 滑动窗口统计法和阈值设定 |
| 3.4. 本章小结 |
| 第四章 故障预警方法的试验验证 |
| 4.1. 引言 |
| 4.2. 故障预警试验系统的方案设计 |
| 4.2.1. 故障预警功能需求分析 |
| 4.2.2. 故障预警功能模块的设计 |
| 4.2.3. 故障预警功能模块的具体实现 |
| 4.3. 门系统故障预警方法验证 |
| 4.3.1. 预测模型的有效性验证 |
| 4.3.2. 故障预警阈值设定 |
| 4.3.3. 故障预警结果分析 |
| 4.4. 本章小结 |
| 第五章 总结与展望 |
| 5.1. 工作总结 |
| 5.2. 工作展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 攻读硕士学位期间的学术成果 |
四、触点电接触失效预测理论的研究（论文参考文献）
- [1]低压断路器触点电气寿命试验及预测研究[D]. 李林. 西安理工大学, 2021(01)
- [2]电连接器微动腐蚀损伤行为与机理研究综述[J]. 郁大照,刘琦,冯利军,程贤斌. 表面技术, 2021(12)
- [3]继电器触点材料消耗试验系统的设计[D]. 吴世辉. 厦门理工学院, 2021(08)
- [4]高频电接触失效机理及可靠性研究[D]. 李庆娅. 北京邮电大学, 2020(01)
- [5]随机振动应力下电磁继电器接触可靠性试验评价方法研究[D]. 吴聪聪. 浙江理工大学, 2020(06)
- [6]银基触点材料电性能模拟实验与寿命预测方法研究[D]. 韩春阳. 江苏科技大学, 2020(03)
- [7]银金属氧化物触点材料电接触特性实验研究[D]. 王占. 江苏科技大学, 2020(03)
- [8]射频连接器无源互调建模及信号干扰研究[D]. 金秋延. 北京邮电大学, 2020(04)
- [9]振动条件下电连接器接触件步进应力加速退化试验研究[D]. 张雯. 浙江理工大学, 2020(04)
- [10]乘客电梯门锁触点故障预警方法研究[D]. 楚晓扬. 浙江理工大学, 2020(04)